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ICT厂家【捷甫】提供ICT在线测试仪开路不良的原因分析

发布时间:2012-06-25  新闻来源:深圳市捷甫电子有限公司

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ICT在线测试仪不良原因分析
开路不良:( 常由探针接触不良所致 )开路不良只针对某一短路群而言,例如:有短路群:  < 1,4,10,12 > , ICT在线测试仪试出1,10开路不良,表示 PCB 上测试点1与测试点10之间电阻大于55Ω(或55-85Ω),可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证;可能原因:
1)测试针坏掉,或针型与待测板上的测试点不适合;
2)测试点上有松香等绝缘物品;
3)某一元器件漏装、焊接不良、错件等;
4)继电器、开关或变阻器的位置有变化;
5)PCB 上铜箔断裂,或 Via Hole 与铜箔之间 Open 。

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